Una experta del Centro Español de Metrología destaca la importancia de esta ciencia en relación con la ingeniería

MDS/DICYT La subdirectora Científica y de Relaciones Institucionales del Centro Español de Metrología (CEM), María del Carmen Matilla, ha participado esta mañana en las VI Jornadas de Ingeniería Energética, que han concluido hoy en la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales y que ha organizado el Departamento de Ingeniería Energética y Fluidomecánica. La experta ha destacado la importancia de la metrología o ciencia de la medida por sus efectos en la industria, comercio e investigación.

Matilla ha precisado que la realización de unas buenas medidas conlleva un efecto económico, ya que los países más desarrollados son los que más Producto Interior Bruto destinan a metrología. "Es necesario tener unas medidas homogeneizadas en el mundo globalizado, ya que el intercambio de manufacturas sería imposible si cada cual midiese a su manera".

En este sentido, ha puesto como ejemplo la construcción del Airbus 380, en la que colaboraron Inglaterra, Francia, Alemania y España, y que no hubiera sido posible si en cada país se midiese de forma diferente. Así, ha destacado que para poder medir se han creado unos patrones denominados constantes fundamentales, y que son la velocidad de la luz, la masa del electrón y la constante de Planck (h), entre otras.

"El avance de la metrología está ligado a la industria, ya que el grado de exigencia en las medidas es cada vez mayor", ha apuntado la investigadora, que también se ha referido a la importancia de la metrología en relación con la nanotecnología (un nanómetro equivale a la milmillonésima parte del metro) y en el campo de la alta investigación del genoma, por ejemplo.

El Centro Español de Metrología (CEM), que depende del Ministerio de Industria, Turismo y Comercio, es el máximo órgano técnico en el campo de la metrología en España, y se encarga, entre otras acciones, de custodiar y conservar los patrones nacionales de las unidades de medida, de dar soporte de trazabilidad a la red de laboratorios acreditados de calibración y ensayo, de la realización de proyectos de investigación, de la conservación del Registro de Control Metrológico, y de la formación de especialistas en este ámbito.

Participación en comités internacionales

La subdirectora Científica y de Relaciones Institucionales del Centro Español de Metrología, María del Carmen Matilla, es licenciada en Ciencias Químicas por la Universidad de Salamanca y doctora en Ciencias Físicas por la Universidad Politécnica de Madrid. Como representante del CEM ha colaborado con la Oficina Internacional de Pesos y Medidas que se encuentra en París (BIPM en sus siglas en francés), en la organización Euromet (European Collaboration In Measurement Standart) y es miembro del Comité Consultivo de Masa (CCM) y del Comité Internacional de Pesas y Medidas (CIPM). Asimismo, en España es presidenta del Comité de Metrología de la Entidad Nacional de Acreditación (ENAC) y presidenta del Comité de Metrología número 82 en la Asociación Española de Normalización (Aenor).